作者单位
摘要
1 西北民族大学 土木工程学院, 甘肃 兰州730030
2 延安大学 物理与电子信息学院, 陕西 延安 716000
采用固相法制备了稀土Sm3+ (0~0.10 mol)掺杂的(Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3高熵荧光粉。研究发现, 随着Sm3+掺杂量的增加, (Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3高熵粉体逐渐出现了Sm2Ti2O7杂相, 其发光强度发生明显变化。当Sm3+掺杂量为0.04 mol时, (Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3高熵粉体具有单一的钙钛矿结构, 且各元素组分分布均匀, 并表现出最佳的荧光性能。当掺杂Sm3+后, (Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3高熵荧光粉均表现出色彩较纯的黄光发射。在近紫外的激发下, (Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3-0.04Sm高熵荧光粉的的色坐标为(0.515 9,0.471 5), 色温为2 469 K, 色纯度为83.0%。这表明(Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3高熵荧光粉在白光LED用的黄光荧光粉中具有很大的应用潜力。
高熵荧光粉 Sm3+掺杂 发光性能 high-entropy phosphor Sm3+-doping (Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3 (Na0.2Bi0.2Ba0.2Sr0.2Ca0.2)TiO3 luminescent properties 
压电与声光
2022, 44(4): 593
作者单位
摘要
1 北京理工大学宇航学院,北京 100081
2 上海交通大学船舶海洋与建筑工程学院,上海 200240
针对摄像测量应用中被测物自身结构复杂或者现场环境复杂出现前景遮挡使得目标丢失导致测量失败的问题,将合成孔径成像与图像处理技术相结合,提出了一种基于阵列式合成孔径成像的遮挡目标位置测量方法。总体思路为通过合成算法得到去遮挡图像,之后识别图像中的被测物,最后进行重建得到待测信息。考虑到标记点法被广泛应用于摄像测量中的位置观测,将其作为研究对象,从合成孔径成像过程中分析典型标志灰度分布,总结现有识别方法在遮挡条件下的适用性,提出了一种适用于合成图像特殊灰度分布规律的标记点以及对应的识别方法并验证了可行性和精度。之后,应用所提方法开展了静态测量和动态测量实验。结果表明,所提基于阵列式合成孔径成像的遮挡目标位置测量方法可以解决复杂结构测量和复杂环境测量时存在的前景遮挡导致标记点丢失和信息识别缺失的问题,为摄像测量在相关应用中提升精度提供了新的手段。
机器视觉 摄像测量 遮挡 光学合成孔径 测量精度 
激光与光电子学进展
2022, 59(8): 0815005
Author Affiliations
Abstract
School of Aerospace Engineering, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China
High-speed cameras are widely used in experimental research and industrial measurement. Although multiple cameras are commonly used, whether the cameras are triggered at the same time is typically overlooked. This study measures the startup time difference between two high-speed cameras employing a proposed measuring system. A series of comparative experiments was conducted to consider the complex factors that can lead to a time difference. The system recorded the startup time differences for different combinations of two cameras at different frame rates, and thus acquired the dependence of the time difference on these factors. Suggestions are made on the basis of the experimental results.
040.1490 Cameras 110.5200 Photography 110.6880 Three-dimensional image acquisition 120.4640 Optical instruments 120.5240 Photometry 320.7100 Ultrafast measurements 
Chinese Optics Letters
2015, 13(7): 070401

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